4 fabricants de diffractomètres de rayons x en 2024
Cette section donne un aperçu des diffractomètres de rayons x ainsi que de leurs applications et principes. Nous vous invitons également à consulter la liste des 4 fabricants de diffractomètres de rayons x ainsi que leur classement.
Table des matières
Qu'est-ce qu'un diffractomètre à rayons X ?
Un diffractomètres à rayons X est un appareil qui mesure les phénomènes de diffraction qui se produisent lorsqu'un matériau est irradié par des rayons X.
L'analyse de la figure de diffraction obtenue lors de la mesure permet d'obtenir des informations sur la structure cristalline du matériau cible.
Les diffractomètres à rayons X sont souvent utilisés pour mesurer des matériaux aux propriétés cristallines, tels que les monocristaux, les poudres et les films minces. Ils sont utilisés pour la recherche, le développement et l'analyse d'une large gamme de matériaux, y compris les matériaux organiques, les matériaux inorganiques, les alliages et les protéines.
Utilisations des diffractomètres à rayons X
Les diffractomètres à rayons X sont utilisés pour mesurer les phénomènes de diffraction qui se produisent lorsqu'un échantillon est irradié par des rayons X. L'analyse des figures de diffraction obtenues permet d'évaluer la cristallinité, l'orientation et les défauts du réseau de l'échantillon.
Comme les diagrammes de diffraction diffèrent pour chaque structure cristalline d'un matériau, ils peuvent également être utilisés pour l'identification et l'analyse qualitative d'échantillons inconnus en les comparant aux diagrammes de diffraction de matériaux connus. Les diffractomètres à rayons X ne conviennent pas pour mesurer les matériaux non cristallins tels que les matériaux amorphes. Cependant, ils peuvent être utilisés pour mesurer une large gamme de matériaux, y compris les poudres cristallines, les films minces et les alliages.
Principe du diffractomètre à rayons X
Les rayons X irradiés sur un matériau sont diffusés par les électrons de ce matériau. Dans les cristaux et autres matériaux dans lesquels les atomes sont disposés avec un certain degré de régularité, les rayons X diffusés interfèrent les uns avec les autres, s'amplifiant ou s'atténuant mutuellement, et l'intensité de la diffusion n'augmente que dans certaines directions. Il s'agit de la diffraction des rayons X.
En diffraction des rayons X, il est connu que l'intensité de diffusion des rayons X augmente lorsque l'équation de Bragg 2d sinθ = nλ (d : espacement du réseau θ : angle de Bragg n : nombre entier λ : longueur d'onde du rayon X irradié) est vérifiée. En d'autres termes, si la longueur d'onde λ est fixée, l'espacement entre les plans du réseau d peut être déterminé pour différents angles de diffraction 2θ (angle entre les rayons X incidents et diffractés). De cette manière, la figure de diffraction mesurée révèle l'arrangement atomique du matériau mesuré.
Types de diffractomètres à rayons X
Les principaux types de diffractomètres à rayons X sont les diffractomètres de poudres, les diffractomètres de monocristaux et les diffractomètres de couches minces. Ils sont classés en fonction de la manière dont les rayons X sont irradiés et détectés.
1. Diffractomètres à rayons X monocristallins (SC-XRD)
Dans cette méthode, les rayons X sont irradiés pendant que le cristal tourne autour d'un certain axe et la figure de diffraction est mesurée sous la forme d'une image bidimensionnelle. Un modèle tridimensionnel de la structure cristalline peut être obtenu en calculant le schéma de diffraction bidimensionnel obtenu à l'aide d'un logiciel spécialisé.
2. Diffractomètres à rayons X (PXRD)
Il s'agit d'une méthode de mesure dans laquelle l'angle d'incidence des rayons X irradiants et la position du détecteur sont déplacés, de sorte que l'intensité de diffraction pour un angle de diffraction de 2θ peut être obtenue comme donnée. Cette méthode est principalement utilisée pour l'identification et l'analyse qualitative de substances dont le schéma de diffraction est connu. C'est la méthode de mesure la plus couramment utilisée car elle nécessite une petite quantité d'échantillon et est facile à ajuster.
3. Diffractomètres à rayons X à couche mince (GI-XRD)
Il s'agit d'une méthode de mesure dans laquelle l'angle d'incidence des rayons X irradiants est fixé de manière à être presque parallèle à la surface du substrat et le détecteur est déplacé. Des mesures dans le plan peuvent également être effectuées en déplaçant le détecteur dans une direction parallèle à la surface du substrat. Cette méthode est principalement utilisée pour identifier la structure cristalline des couches minces et des interfaces et pour l'analyse qualitative, car l'influence du substrat est relativement faible et des informations sur les zones proches de la surface peuvent être obtenues.
Chacune de ces méthodes présente des caractéristiques différentes et doit être utilisée en fonction du but de l'utilisation et de l'échantillon à mesurer. Selon le but recherché, il peut également être préférable d'utiliser un instrument de mesure similaire, un instrument de diffusion des rayons X. D'autres accessoires peuvent être utilisés pour changer le type de source lumineuse et pour modifier l'environnement de mesure, comme la température et la pression, pendant les mesures.
Liste de 4 fabricants de diffractomètres de rayons x
*Y compris certains distributeurs, etc.
Trier par caractéristiques
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- Taille de l'entreprise : la plus grande en premier
- Année de création : la plus ancienne en premier
- Année de création : la première
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GEMAC
Diffraction de rayons X
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Malvern Panalytical
Diffractomètres a rayons X
Présentation de l'entreprise
Malvern Panalytical est un fabricant spécialisé dans les instruments d'analyse et de caractérisation des matériaux fondé en 1997 et dont le siège social est situé à Almelo, aux Pays-Bas. Le secteur d'activité principal de l’entreprise est l'analyse et la caractérisation des matériaux dans divers domaines tels que la science des matériaux, la recherche pharmaceutique, l'industrie chimique ainsi que l'agroalimentaire. Malvern Panalytical dessert des clients dans plus de 90 pays à travers le monde et dispose de plusieurs bureaux et sites de production dans différents pays.
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Anton Paar GmbH
Diffractomètres a rayons X
Présentation de l'entreprise
Anton Paar est un fabricant d’instruments d’analyse pour les laboratoires ainsi que de services d'automatisation et de robotique fondé en 1922 et basé à Graz en Autriche. L’entreprise possède plusieurs filiales à travers le monde et est spécialisée dans les instruments de mesure et d’analyse de haute précision et possède également un pôle recherche et développement important. Anton Paar possède une très large gamme de produits comprenant l’analyse thermique, l’analyse de particules, l’automatisation et la robotique ainsi que divers systèmes de mesure.
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Classement des fabricants de diffractomètres de rayons x
*Y compris certains distributeurs, etc.Classement en France
Méthode de dérivation| Classement | Entreprise | Cliquez sur Partager |
|---|---|---|
| 1 | GEMAC | 40% |
| 2 | LCMT | 40% |
| 3 | Anton Paar GmbH | 20% |
Classement global
Méthode de dérivation| Classement | Entreprise | Cliquez sur Partager |
|---|---|---|
| 1 | Anton Paar GmbH | 63.6% |
| 2 | GEMAC | 18.2% |
| 3 | LCMT | 18.2% |
Méthode de dérivation
Le classement est calculé sur la base de la part de clics. La part de clics est définie comme le nombre total de clics pour toutes les entreprises au cours de la période divisé par le nombre de clics pour chaque entreprise.Nombre d'employés
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