6 fabricants de analyseurs de fluorescence x en 2024
Cette section donne un aperçu des analyseurs de fluorescence x ainsi que de leurs applications et principes. Nous vous invitons également à consulter la liste des 6 fabricants de analyseurs de fluorescence x ainsi que leur classement.
Table des matières
Qu'est-ce qu'un analyseur de fluorescence X ?
Les analyseurs de fluorescence X sont des appareils qui analysent la teneur en éléments en fonction du spectre de fluorescence des rayons X lorsqu'un objet est irradié par des rayons X.
Les analyseurs de fluorescence X sont utilisés pour l'analyse qualitative et quantitative des substances et sont utilisés comme méthode d'analyse de la composition des substances, car ils peuvent être examinés en peu de temps sans détruire l'échantillon.
Les analyseurs de fluorescence X peuvent être utilisés pour mesurer à la fois les solides et les liquides. En tant que méthode d'analyse qualitative, ils constituent un équipement d'inspection très fiable en raison de leur sensibilité relativement élevée.
Utilisations des analyseurs de fluorescence X
Les analyseurs de fluorescence X permettent de réaliser des analyses qualitatives et quantitatives d'échantillons, solides ou liquides, de manière non destructive. Ils sont particulièrement utilisés pour déterminer la présence et la teneur de métaux toxiques dans les alliages et les sols.
Par exemple, l'analyse aux rayons X est utile pour étudier la composition de matériaux de composition inconnue, tels que les roches et les météorites. Récemment, le câblage imprimé est devenu sans halogène du point de vue de la protection de l'environnement et de la sécurité, et les analyseurs de fluorescence X sont utilisés pour le garantir. D'autres applications comprennent la détermination qualitative et quantitative des substances chimiques dangereuses, qui sont utilisées pour tester les substances spécifiées dans la directive RoHS. Des instruments portables, facilement transportables, sont également disponibles et trouvent de plus en plus d'applications.
Principe des analyseurs de fluorescence X
Les analyseurs de fluorescence X mesurent la longueur d'onde (ou l'énergie) et l'intensité de la fluorescence X émise lorsqu'un objet est irradié avec des rayons X.
Lorsqu'une substance est irradiée par des rayons X, ses atomes absorbent de l'énergie et sont excités, émettant des rayons X de fluorescence. Comme la longueur d'onde (ou l'énergie) de la fluorescence des rayons X est propre à chaque élément, il est possible d'identifier le type de substance à partir de la longueur d'onde du spectre de fluorescence des rayons X détecté et de la quantifier à partir de son intensité.
Un analyseur de fluorescence X se compose d'une source de rayons X qui génère des rayons X, d'une chambre à échantillon qui contient l'échantillon et d'une unité de détection qui spectroscopie et détecte la fluorescence X générée.
Dans la source de rayons X, des faisceaux d'électrons générés par l'application d'une haute tension sont irradiés sur une cible telle que le tungstène pour générer des rayons X. Les rayons X générés sont irradiés par un faisceau d'électrons. Les rayons X générés sont irradiés sur la surface supérieure ou inférieure de l'échantillon. À ce stade, l'atmosphère de la chambre à échantillon peut être choisie parmi l'atmosphère, l'azote ou le vide.
Dans les analyseurs de fluorescence X dotés d'un mode d'observation de l'échantillon, la position d'irradiation peut être sélectionnée tout en observant l'échantillon. La fluorescence élémentaire des rayons X émise par l'échantillon est détectée par le détecteur et analysée qualitativement. Dans l'analyse quantitative, l'intensité de la fluorescence des rayons X est mesurée et le contenu est déterminé à l'aide d'une courbe d'étalonnage ou de la méthode des paramètres fondamentaux (méthode FP).
Il existe deux types de méthodes de spectroscopie et de détection pour les analyseurs de fluorescence X : dispersive en longueur d'onde et dispersive en énergie.
1. Analyseurs dispersifs en énergie de fluorescence X
Les analyseurs de fluorescence X à dispersion d'énergie (abrégés en ED-XRF, ou EDX, EDS) mesurent l'intensité de la fluorescence X en fonction de son énergie.
Plus précisément, la fluorescence des rayons X incidente sur le détecteur est convertie en un courant d'impulsion par un semi-conducteur dans le détecteur, amplifiée, puis la hauteur d'onde est mesurée à partir de la valeur du courant d'une impulsion. L'énergie des rayons X incidents est proportionnelle à la valeur du courant, ce qui permet d'obtenir un graphique de l'intensité de la fluorescence des rayons X en fonction de son énergie.
2. Analyseurs de fluorescence X dispersifs en longueur d'onde
Les analyseurs de fluorescence X dispersifs en longueur d'onde (abrégés en WD-XRF, ou WDX, WDS) mesurent l'intensité de la fluorescence X en fonction de sa longueur d'onde.
Dans les analyseurs de fluorescence X dispersifs en longueur d'onde, les rayons X émis par l'échantillon sont divisés spectralement par un cristal monochromateur et mesurés par un détecteur. Les rayons X incidents sur le cristal spectroscopique sont fortement dispersés dans une certaine direction selon les conditions de diffraction de Bragg.
La condition de diffraction de Bragg est une loi qui stipule que lorsque la lumière de longueur d'onde λ est incidente sur un matériau avec un espacement de réseau d, elle est fortement diffusée dans la direction de l'angle de diffraction 2θ, qui satisfait 2dsinθ = nλ (θ : angle de Bragg n : nombre entier). En d'autres termes, comme l'espacement des faces d du cristal monochromateur est fixe, seuls les rayons X d'une longueur d'onde sont détectés lorsque le détecteur se trouve dans la direction de l'angle de diffraction 2θ, même si des rayons X de différentes longueurs d'onde sont incidents. Si le détecteur est tourné pour mesurer la fluorescence des rayons X sous un grand angle, un graphique de l'intensité de la fluorescence des rayons X en fonction de la longueur d'onde de la fluorescence des rayons X peut être obtenu.
Autres informations sur les analyseurs de fluorescence X
Caractéristiques dispersives en énergie et en longueur d'onde
Les méthodes de détection dispersives en énergie et en longueur d'onde ont chacune leurs propres caractéristiques et doivent être sélectionnées en fonction de l'application.
1. Type à dispersion d'énergie
Les détecteurs de fluorescence X à dispersion d'énergie ne nécessitent pas de spectroscopie et peuvent être miniaturisés, car le détecteur à semi-conducteur peut analyser directement la longueur d'onde de la fluorescence X. Il permet également de détecter plusieurs types d'éléments. Ils permettent également d'effectuer plusieurs types d'analyses élémentaires à la fois sans avoir recours à la spectroscopie, ce qui rend les mesures possibles en peu de temps. Comme les mesures peuvent être effectuées indépendamment de la forme ou des irrégularités de l'échantillon, ils sont parfois utilisés en combinaison avec des microscopes électroniques.
En revanche, ils présentent des inconvénients, tels que le chevauchement des pics spectraux et la faible résolution, ainsi que la difficulté de détecter des éléments qui ne sont présents qu'à l'état de traces dans l'objet à mesurer.
2. Type dispersif en longueur d'onde
Dans la spectroscopie de fluorescence X dispersive en longueur d'onde, la fluorescence X est divisée spectralement par un cristal spectroscopique et mesurée par un détecteur. La spectroscopie étant basée sur les longueurs d'onde, les pics adjacents peuvent être facilement séparés, et la sensibilité et la résolution tendent à être élevées.
En revanche, l'équipement lui-même est généralement volumineux et coûteux en raison de la complexité du système spectral. De plus, la mesure prend plus de temps que le type dispersif en énergie, car l'angle de diffraction varie et la surface de l'échantillon doit être lisse.
Liste de 6 fabricants de analyseurs de fluorescence x
*Y compris certains distributeurs, etc.
Trier par caractéristiques
- Défaut
- Taille de l'entreprise : la plus grande en premier
- Année de création : la plus ancienne en premier
- Année de création : la première
Trier par région
- Hollande
- Japon
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AntiTeck Life Sciences Limitée
Spectromètre à fluorescence X
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Groupe Physitek
NEX QC+ QUANTEZ SPECTROMÈTRE EDXRF
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HORIBA, Ltd.
HORIBA XRF Analyzers
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Présentation de l'entreprise
Olympus est un fabricant de solutions d'imagerie et de mesure pour diverses applications industrielles fondé en 1919 et basé à Tokyo, au Japon. L’entreprise opère principalement dans la fabrication d'appareils d'inspection industrielle, de caméras, de microscopes, d'endoscopes, de systèmes de mesure ainsi que d'équipements d'imagerie médicale pour les secteurs de la recherche, de l'industrie, de la santé et de la sécurité. L'entreprise dessert des clients dans plus de 40 pays à travers le monde, avec de nombreux bureaux, filiales et partenaires internationaux. Olympus a reçu plusieurs certifications et récompenses pour ses pratiques durables.
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Malvern Panalytical
XRF -Spectromètres de fluorescence X
Présentation de l'entreprise
Malvern Panalytical est un fabricant spécialisé dans les instruments d'analyse et de caractérisation des matériaux fondé en 1997 et dont le siège social est situé à Almelo, aux Pays-Bas. Le secteur d'activité principal de l’entreprise est l'analyse et la caractérisation des matériaux dans divers domaines tels que la science des matériaux, la recherche pharmaceutique, l'industrie chimique ainsi que l'agroalimentaire. Malvern Panalytical dessert des clients dans plus de 90 pays à travers le monde et dispose de plusieurs bureaux et sites de production dans différents pays.
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Shimadzu Europa GmbH
EDX-7000P / EDX-8000P
Présentation de l'entreprise
Shimadzu est un fabricant japonais spécialisé dans les équipements d'analyse et de mesure scientifique fondé en 1875 et dont siège social se situe à Kyoto, au Japon. Le secteur d'activité principal de l’entreprise est la fabrication d'instruments de laboratoire, d'équipements de mesure et d'analyse, ainsi que de solutions pour les industries pharmaceutiques, chimiques, agroalimentaires et environnementales. Shimadzu dessert un large éventail de secteurs, allant de la recherche académique aux applications industrielles.
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Classement des fabricants de analyseurs de fluorescence x
*Y compris certains distributeurs, etc.Classement en France
Méthode de dérivation| Classement | Entreprise | Cliquez sur Partager |
|---|---|---|
| 1 | AntiTeck Life Sciences Limitée | 34.6% |
| 2 | EVIDENT | 26.9% |
| 3 | Groupe Physitek | 15.4% |
| 4 | Shimadzu Europa GmbH | 7.7% |
| 5 | HORIBA, Ltd. | 7.7% |
| 6 | Malvern Panalytical | 7.7% |
Classement global
Méthode de dérivation| Classement | Entreprise | Cliquez sur Partager |
|---|---|---|
| 1 | HORIBA, Ltd. | 45% |
| 2 | EVIDENT | 32.5% |
| 3 | AntiTeck Life Sciences Limitée | 11.3% |
| 4 | Groupe Physitek | 5% |
| 5 | Malvern Panalytical | 3.8% |
| 6 | Shimadzu Europa GmbH | 2.5% |
Méthode de dérivation
Le classement est calculé sur la base de la part de clics. La part de clics est définie comme le nombre total de clics pour toutes les entreprises au cours de la période divisé par le nombre de clics pour chaque entreprise.Nombre d'employés
- EVIDENT: 31
- Shimadzu Europa GmbH: 13
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